概述

 CT8201 激光器芯片测试系统是针对激光二极管LIV、光谱及近场/远场参数测试需求开发的。系统集成了①DUT ID扫描→②从晶圆环上料→③运输→④高/低温测试→⑤下料→⑥分拣归类。支持前向/后向光测试。支持多温区测试：3个测试座以支持高温/低温/常温并行测试。CT8201 测试效率非常快，可以在8s内完成上述6个流程。非常适合大批量量产应用。系统采用偏心凸轮结构、高重复性步进电机计、高精密夹具以及连接杆结构，使其具有超高的精度和稳定性。